濾光片的劃傷和麻點(diǎn)是其表面的兩種缺陷。

道子、亮路都統稱(chēng)為劃痕，它是指濾光片表面出現的長(cháng)條狀損傷痕跡。規定長(cháng)與寬的比大于4：1的為劃痕，斑點(diǎn)、坑點(diǎn)、點(diǎn)子都稱(chēng)為麻點(diǎn)，是濾光片表面散布的微小凹坑或凸點(diǎn)，其長(cháng)與寬的比小于4：1。對于濾光片劃傷和麻點(diǎn)的評定，常用的標準之一是美國軍用標準mil-prf-13830b，該標準用兩組數字表示表面缺陷大小，例如40/20（或40-20），前者限制劃痕大小，后者限制麻點(diǎn)大小。

以下是一些具體的標準和示例：

劃痕：

以美國軍用標準《mil-o-13830》的表面質(zhì)量劃痕樣板作為各級數劃痕的比對標準。注意美軍標未指明劃痕的計量單位，即未確定劃痕的寬度和深度，只能以實(shí)際觀(guān)察樣版為標準。標準樣版有10＃、20＃、40＃、60＃、80＃共5個(gè)級。

當元件的劃痕級數超過(guò)表面質(zhì)量要求的劃痕級數時(shí)，元件不合格。例如，元件的表面質(zhì)量要求為60—40，則代表元件的劃痕必須≤60＃，如果元件有＞60＃的劃痕，則元件不合格。

當元件的劃痕級數未超過(guò)表面質(zhì)量要求的級數，但元件存在大劃痕時(shí)，所有大劃痕的長(cháng)度之和應不超過(guò)元件直徑的1/4。例如，有一長(cháng)30mm寬10mm的元件，元件的表面質(zhì)量要求為60—40，有2條60＃長(cháng)為3mm劃痕，它的等效直徑為20mm，1/4d為1/4×20=5mm，大劃痕的長(cháng)度和為3mm+3mm=6mm，6mm＞5mm，元件大劃痕的長(cháng)度和超過(guò)元件直徑的1/4，所以元件不合格。

當元件存在大劃痕，而大劃痕的長(cháng)度之和未超過(guò)1/4d時(shí)，要求所有級數的劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比所得乘積之和，不得超過(guò)大劃痕級數的一半。例如，有一長(cháng)30mm寬10mm的元件，元件的表面質(zhì)量要求為60—40，元件上有2條2mm的60＃劃痕，3條4mm的40＃劃痕，它的等效直徑為20mm，1/4d為1/4×20=5mm，大劃痕的長(cháng)度和為2mm+2mm=4mm，4mm＜5mm，符合條件；但所有級數的劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比所得乘積之和為：60＃劃痕長(cháng)度為（2+2），40＃劃痕長(cháng)度為（4+4+4+4），60＃劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比為60×（2+2）/20，40＃劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比為40×（4+4+4+4）/20，所有級數的劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比所得乘積之和為（60×（2+2）/20）+（40×（4+4+4+4）/20）=36，元件大劃痕級數為60，60的一半為60/2=30，36＞30，因此元件不合格。

當元件的劃痕級數未超過(guò)表面質(zhì)量要求的級數，且元件不存在大劃痕時(shí)，所有級數的劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比所得乘積之和，不得超過(guò)大劃痕級數。例如，元件為直徑10mm，表面質(zhì)量指標60—40，有2條50＃劃痕2mm，1條40＃劃痕3mm，另2條40＃劃痕2mm，2條20＃劃痕2mm，10＃劃痕長(cháng)度合計10mm，所有級數的劃痕乘以劃痕長(cháng)度與元件直徑之比所得乘積之和為（50×（2+2）/10）+（40×（3+2+2）/10）+（20×（2+2）/10）+（10×10/10）=66，元件大劃痕為60＃，66＞60，因此元件不合格。

當元件質(zhì)量指標要求劃痕等級為20或優(yōu)于此等級時(shí)，元件表面不準有密集劃痕，即在元件中任何一個(gè)直徑6.35mm面積的區域，不允許有4條或4條以上的大等于10＃劃痕。

對于圓形元件不允許有20＃級數以上與直徑相等的劃痕。對于方形元件不允許有20＃級數以上貫穿元件的劃痕。

麻點(diǎn)：

依據美國軍用標準mil-prf-13830b，麻點(diǎn)的級數取允許缺陷的實(shí)際直徑，規定以1/100mm作為計量單位。如果麻點(diǎn)形狀不規則，則應取大長(cháng)度和大寬度的平均值作為直徑。例如，50＃麻點(diǎn)表示直徑d=0.5mm的麻點(diǎn)。

當元件存在超過(guò)表面質(zhì)量要求的麻點(diǎn)級數時(shí)，元件不合格。例如，元件為直徑20mm，質(zhì)量指標要求為60—40，元件有1個(gè)直徑0.5mm的麻點(diǎn)，因為50＞40，所以元件不合格。

每20mm直徑上只允許有1個(gè)大麻點(diǎn)。例如，元件為直徑20mm，質(zhì)量指標要求為60—40，元件有2個(gè)直徑0.4mm的麻點(diǎn)，元件不合格。

每20mm直徑上所有麻點(diǎn)直徑的總和不得超過(guò)大麻點(diǎn)的2倍。例如，40mm×40mm的元件，質(zhì)量指標要求為60-40，其中一個(gè)直徑20mm的區域有40＃點(diǎn)子一個(gè)，20＃點(diǎn)子一個(gè)，10＃點(diǎn)子一個(gè)，同時(shí)在另一個(gè)直徑20mm區域中，20＃點(diǎn)子2個(gè)，10＃點(diǎn)子4個(gè)，5＃點(diǎn)子1個(gè)。

當麻點(diǎn)質(zhì)量要求為10或更優(yōu)等級時(shí)，任何兩個(gè)麻點(diǎn)的間距必須大于1mm。例如，40mm×40mm的元件，質(zhì)量指標要求為20-10，有兩個(gè)5＃的點(diǎn)子，點(diǎn)子之間的距離為0.8mm，因為0.8mm＜1mm，所以元件不合格。

小于2.5um的麻點(diǎn)略去不計。

當出現密集麻點(diǎn)時(shí)，以麻點(diǎn)聚集的外圍圈徑為麻點(diǎn)大小。

此外，在實(shí)際應用中，不同的行業(yè)和具體使用場(chǎng)景可能會(huì )有各自特定的標準和要求。在選擇濾光片時(shí)，需要根據具體需求來(lái)確定所需的表面質(zhì)量標準。同時(shí)，在濾光片的生產(chǎn)、檢測和使用過(guò)程中，應盡量避免或減少劃傷和麻點(diǎn)的產(chǎn)生，以保證濾光片的性能和質(zhì)量。